合肥动态平板探测器技术参数

噪声是指非输入信号造成的输出信号。主要来源是探测器的电子噪声、射线图像量子噪声。

信噪比：探测器获得图像信号平均值与图像信号标准偏差之比，用SNR表示。信噪比越高，图像质量越好。比较不同探测器的信噪比，必须在同样的探测器单元尺寸下进行。计算公式：SNRn=SNRm×88.6/P。

SNRn归一化信噪比，SNRm测量信噪比，P探测器像素尺寸（um）。

线性度:是探测器产生的信号在比较大剂量射线强度范围内与入射强度成正比的能力。

稳定性：是随着工作时间的增加探测器处理信号产生一致性的能力，线性度和稳定性直接影响探测器精度。

响应时间：是探测器从接收射线光子到获得稳定的探测器信号所需要的时间，它是影响采样的速率及数据质量的关键。由探测器预备时间，曝光等待时间，曝光窗口，图像读出时间四部分构成。 对光电转换器而言，其响应的较大与较小亮度值之比为动态范围。合肥动态平板探测器技术参数

直接式平板探测器成像原理。主要由集电矩阵、硒层、电介层、顶层电极和保护层等构成。集电矩阵由按阵元方式排列的薄膜晶体管(TFT)组成。非晶硒半导体材料在薄膜晶体管阵列上方通过真空蒸镀生成约、38mm×45mm见方的薄膜，它对X线很敏感，并有很高的图像解析能力。顶层电极接高压电源，当有X线入射时，由于高压电源在非晶硒表面形成的电场，它们只能沿电场方向垂直穿过绝缘层、X射线半导体、电子封闭层，到达非晶硒，不会出现横向偏离从而出现光的散射。 济南工业平板探测器应用范围平板探测器工业应用从工业铸件、管道焊缝等传统检测逐步拓展到新能源电池检测、集成电路检测等。

量子探测效率(DQE)是一种对成像系统信号和噪声从输入到输出的传输能力的表达，以百分比表示。DQE反映的是平板探测器的灵敏度、噪声、X线剂量和密度分辨率。

在非晶硅平板探测器中，影响DQE的因素主要有两个方面：闪烁体涂层和将可见光转换成电信号的晶体管。闪烁体涂层的材料和工艺影响了X线转换成可见光的能力，所以对DQE会产生影响。闪烁体涂层材料有两种：碘化铯和硫氧化钆。碘化铯将X线转换成可见光的能力比硫氧化钆强但成本比较高；将碘化铯加工成柱状结构，可以进一步提高捕获X线的能力，减少散射光。使用硫氧化钆做涂层的探测器成像速率快，性能稳定，成本较低，但是转换效率不如碘化铯涂层高。

X线影像的形成，应具备以下三个基本条件：

1、X线应具有一定的穿透力，这样才能穿透照射的组织结构；

2、被穿透的组织结构，必须存在着密度和厚度的差异，这样，在穿透过程中被吸收后剩余下来的X线量，才会是有差别的；

3、这个有差别的剩余X线，仍是不可见的，还必须经过显像这一过程，例如经X线片、荧屏或电视屏显示才能获得具有黑白对比、层次差异的X线影像。人体组织结构，是由不同元素所组成，依各种组织单位体积内各元素量总和的大小而有不同的密度。 Binning降低输出图像解析力，只能输出单色图像。

X射线管包含有阳极和阴极两个电极，分别用于接受电子轰击的靶材和发射电子的灯丝。两极被密封在高真空的玻璃或陶瓷外壳内。X射线管供电部分至少包含有一个使灯丝加热的低压电源和一个给两极施加高电压的高压发生器。当钨丝通过足够的电流使其产生电子云，且有足够的电压（千伏等级）加在阳极和阴极间，使得电子云被拉往阳极。此时电子以高能高速的状态撞击钨靶，高速电子到达靶面，运动突然受到阻止，其动能的一小部分便转化为辐射能，以X射线的形式放出，以这种形式产生的辐射称为轫致辐射。 非晶硒探测器测器由非晶硒层TFT组成。济南工业平板探测器应用范围

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平板探测器（简称FPD）面积一定的条件下，为增加空间分辨率，只能减小像素尺寸、降低单位像素面积、增加像素密度。单位像素的面积越小，会使像素有效因子减少，像素的感光性能越低，信噪比越低，动态范围变窄。因此这种减小像素尺寸的方法不可能无限制地增大分辨率，相反会引起图像质量的恶化，增加的空间分辨率又被因此带来的噪声淹没。要弥补此问题就要增大X射线的曝光剂量，这与X射线影像技术的发展相违背。因此，单有高的空间分辨率并不意味着更高的发现能力。 合肥动态平板探测器技术参数